माध्यमिक छवि विभाजन परीक्षण प्रणाली - प्रयोगशाला संस्करण
माध्यमिक छवि विभाजन परीक्षण प्रणाली एक स्वतन्त्र मापन प्रणाली हो जसले क्यामेरा क्षेत्र र गिलासको अन्य क्षेत्रहरूमा छवि विभाजन पत्ता लगाउने कार्य गर्दछ।
माध्यमिक छवि विभाजन परीक्षण प्रणाली-ल्याब संस्करणले दृष्टि प्रणाली मार्गदर्शनको साथ निर्दिष्ट स्थापना कोणमा विभिन्न दृश्य कोणहरूमा समर्पित बिन्दुहरूको माध्यमिक छवि विभाजन मूल्य परीक्षण गर्न सक्छ। प्रणालीले सीमाभन्दा बढी अलार्म देखाउन, रेकर्ड, प्रिन्ट, भण्डारण र परीक्षण परिणाम निर्यात गर्न सक्छ।
नमूनाहरू
नमूना आकार दायरा: 1.9*1.6m/1.0*0.8m (अनुकूलित)
नमूना लोडिङ कोण दायरा: 15° ~ 75° (नमूना आकार, लोडिङ कोण दायरा, मापन दायरा, र मेकानिकल प्रणाली आन्दोलन दायरा आवश्यकता अनुसार अनुकूलित गर्न सकिन्छ।)
हेर्ने कोण दायरा: तेर्सो कोण-15°~15°，ठाडो कोण-10°~10° (अनुकूलित)
प्रदर्शन
एकल बिन्दु परीक्षण पुनरावृत्ति: 0.4' (द्वितीय छवि विभाजन कोण <4'), 10% (4'≤ माध्यमिक छवि विभाजन कोण <8'), 15% (सेकेन्डरी छवि विभाजन कोण≥8')
नमूना लोडिङ कोण: 15° ~ 75° (अनुकूलित)
माध्यमिक छवि विभाजन परीक्षण प्रणालीप्यारामिटरहरू
| मापन दायरा: 80'*60' न्यूनतम मूल्य: 2' संकल्प: ०.१' | प्रकाश स्रोत: लेजर तरंग लम्बाइ: 532nm पावर: <20mw |
VisionSप्रणालीप्यारामिटरहरू
| मापन दायरा: 1000mm * 1000mm | स्थिति सटीकता: 1 मिमी |
मेकानिकल प्रणाली प्यारामिटरहरू (अनुकूलित)
| नमूना आकार: 1.9*1.6m/1.0*0.8m; नमूना निर्धारण विधि: माथिल्लो 2 अंक, तल्लो 2 अंक, अक्षीय सममित। स्थापना कोण आधार: नमूनाको चार निश्चित बिन्दुहरू द्वारा बनेको विमान नमूना लोडिङ कोण समायोजन दायरा: 15° ~ 75° | X: तेर्सो दिशा Z: ठाडो दिशा X-दिशा दूरी: 1000mm Z-दिशा दूरी: 1000mm अधिकतम अनुवाद गति: 50mm/सेकेन्ड अनुवाद स्थिति सटीकता: 0.1mm |
